A Talos F200X G2 elektronmikroszkóp ...hagyományos transzmissziós (TEM) és pásztázó sugaras transzmissziós (STEM) módban is üzemeltethető. A műszerrel egyidejűleg nyerhető képi, szerkezeti (diffrakciós) és kémiai információ a vizsgált anyagról, a mikrométerestől az atomi felbontásig. |
||
A mikroszkóp legfontosabb jellemzői: - alkalmas atomi felbontású (0,12 nm) TEM felvételek készítésére és a szerkezet elektrondiffrakciós vizsgálatára; - a hagyományos transzmisszós mód (TEM) mellett a fókuszált sugárnyaláb mozgatásán alapuló, pásztázó módban (STEM) is működtethető, 0,135 nm pontfelbontással; - a mikroszkóp oszlopába épített, négy egységből álló energiadiszperzív röntgendetektor (EDS) lehetővé teszi a minta elemi összetételének mennyiségi vizsgálatát és a nagy sebességű elemtérképezést; - téremissziós sugárforrással (X-FEG) rendelkezik, elektronnyalábjának átmérője 0,15 nm, ezáltal a műszer pásztázó módban szubnanométeres felbontású analitikai vizsgálatra is alkalmas; - speciális mintatartók és szoftver révén 3D tomográfiás morfológiai és összetételi elemzés a nanométeres tartományban.
|
![]() |
|
A műszer fő paraméterei: | ||
Gyorsítófeszültség: Sugárforrás: Elektronoptika: Felbontás: |
![]() |
|
Mintatartók: - általános, egy tengely mentén dönthető mintatartó; Mintaasztal: Képrögzítés: |
![]() |
|
Energiadiszperzív röntgenspektrométer (EDS): - a mikroszkóppal egybeépített, ablakmentes vagy ultravékony ablakos, „Super-X” detektorrendszer 4 szilícium drift detektorral (SDD) (melyek egyenként ki- illetve bekapcsolhatók); |
![]() |
|
Elektrontomográfia: - TEM tomográfiához adatgyűjtő szoftver (döntési sorozatok automatikus felvétele, a képek illesztése és automatikus fókuszálás); Egyéb: - beépített, VELOX mikroszkópvezérlő szoftver; |
![]() |