A Talos F200X G2 elektronmikroszkóp

...hagyományos transzmissziós (TEM) és pásztázó sugaras transzmissziós (STEM) módban is üzemeltethető.  A műszerrel egyidejűleg nyerhető képi, szerkezeti (diffrakciós) és kémiai információ a vizsgált anyagról, a mikrométerestől az atomi felbontásig.

A mikroszkóp legfontosabb jellemzői:

- alkalmas atomi felbontású (0,12 nm) TEM felvételek készítésére és a szerkezet elektrondiffrakciós vizsgálatára;

- a hagyományos transzmisszós mód (TEM) mellett a fókuszált sugárnyaláb mozgatásán alapuló, pásztázó módban (STEM) is működtethető, 0,135 nm pontfelbontással; 

- a mikroszkóp oszlopába épített, négy egységből álló energiadiszperzív röntgendetektor (EDS) lehetővé teszi a minta elemi összetételének mennyiségi vizsgálatát és a nagy sebességű elemtérképezést; 

- téremissziós sugárforrással (X-FEG) rendelkezik, elektronnyalábjának átmérője 0,15 nm, ezáltal a műszer pásztázó módban szubnanométeres felbontású analitikai vizsgálatra is alkalmas; 

- speciális mintatartók és szoftver révén 3D tomográfiás morfológiai és összetételi elemzés a nanométeres tartományban.

Gyorsítófeszültség: 
- változtatható a 20 kV – 200 kV tartományban.

Sugárforrás: 
- nagy fényerejű, X-FEG téremissziós sugárforrás, fényesség 1.8×109 A/cm2 srad (@ 200 kV);
- ≥ 50 nA nyalábáram; 
- 1 nm sugárátmérőnél 1,5 nA áramsűrűség (probe current); 
- a sugár 0,4 nm sugárátmérőig fókuszálható.

Elektronoptika: 
- elforgatásmentes leképezést lehetővé tévő, állandó áramú, X-TWIN objektívlencse; 
- automata apertúrarendszer; 
- elektronoptikai beállítások tárolhatók; 
- beépített elektronika (eltérítő tekercsek) a STEM módbeli pásztázáshoz.

Felbontás: 
- pásztázó módban, nagyszögű, gyűrűs, sötét látóterű (HAADF) detektorral 0,135 nm (gyárilag 0.167 garantált); 
- transzmissziós módban (TEM) információlimit 0,12 nm; 
- TEM pontfelbontás 0,25 nm.

- általános, egy tengely mentén dönthető mintatartó; 
- két tengely mentén, ±30°-ban dönthető, alacsony hátterű (minimális árnyékolást biztosító, könnyűfém (Be) alkatrészeket tartalmazó), EDS-hez optimalizált analitikai mintatartó; 
- nagy látómezőt biztosító mintatartó tomográfiás leképezéshez, ±80°-os döntéssel.

Mintaasztal: 
- piezoelektromosan vezérelt X, Y irányú mozgatás (legkisebb lépésköz 0,02 nm) a driftmentes leképezéshez.

Képrögzítés: 
- nagyszögű gyűrűs, sötét látóterű (HAADF) detektor; 
- az optikai tengelyen elhelyezkedő világos/sötét látóterű detektor; STEM képpontok száma: 4k × 4k; 4 egyidejűleg gyűjthető STEM csatorna; 
- SmartCam digitális keresőkamera; 
- Ceta 16 Mpixel, 4k x 4k CMOS kamera széles látószöggel, 16 bit színmélységgel és gyors kiolvasási sebességgel (30 fps).

Energiadiszperzív röntgenspektrométer (EDS): 

- a mikroszkóppal egybeépített, ablakmentes vagy ultravékony ablakos, „Super-X” detektorrendszer  4 szilícium drift detektorral (SDD) (melyek egyenként ki- illetve bekapcsolhatók); 
- jelgyűjtési térszög ≥ 0,9 srad; 
- 140 eV spektrális felbontás a Mn Kα csúcsánál; 
- gyors EDS térképezés (10 µs dwell time/pixel); 
- minőségi és mennyiségi kiértékeléshez 64 bit Windows platformon működő szoftver, számítógéppel.

- TEM tomográfiához adatgyűjtő szoftver (döntési sorozatok automatikus felvétele, a képek illesztése és automatikus fókuszálás); 
- STEM tomográfiához adatgyűjtő szoftver; 
- EDS tomográfiához adatgyűjtő szoftver; 
- Inspect 3D és Avizo szoftver a képsorozatok tomografikus feldolgozásához és a 3D rekonstrukciók megjelenítéséhez. 

Egyéb: 

- beépített, VELOX mikroszkópvezérlő szoftver; 
- távoli mikroszkópvezérlés.